W przypadku wafli mono-Si do drugiej połowy roku najczęściej stosowanym projektem stanie się pełny kwadrat 158,75 mm. Tylko nieliczni producenci używają wafli, które są większe niż ten. Na przykład LG i Hanwha Q Cells stosują wafle M4 (161,7 mm), podczas gdy Longi promuje wafle 166 mm.
Najnowocześniejsze wafle Full Square Mono wafle zmaksymalizowały ekspozycję na światło na tym samym poziomie, co multi wafel poprzez rozszerzenie miary kwadratu. Wafle są zawsze w pełni kwadratowe, aby optymalnie pasowały do modułu fotowoltaicznego.
1 Właściwości materiału
własność | Specyfikacja | Metoda kontroli |
Metoda wzrostu | CZ | |
Krystaliczność | Monokrystaliczny | Preferencyjne techniki wytrawiania（ASTM F47-88） |
Typ przewodności | Typ N | Napson EC-80TPN |
Domieszka | Fosfor | - |
Stężenie tlenu [Oi] | ≦8E (17 na/cm)3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Stężenie węgla [Cs] | ≦5E (16 at/cm)3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Gęstość wytrawiania (gęstość dyslokacji) | ≦500 cm-3 | Preferencyjne techniki wytrawiania（ASTM F47-88） |
Orientacja powierzchni | & lt;100>±3° | Metoda dyfrakcji rentgenowskiej (ASTM F26-1987) |
Orientacja boków pseudokwadratowych | & 010>,&001>±3° | Metoda dyfrakcji rentgenowskiej (ASTM F26-1987) |
2 Właściwości elektryczne
własność | Specyfikacja | Metoda kontroli |
Oporność | 0,3-2,1 Ω.cm 1,0-7,0 Ω.cm | System kontroli wafli |
MCLT (czas życia przewoźnika mniejszościowego) | ≧1000 μs (rezystywność 0,3-2,1 Ω.cm) | Sinton przejściowy |
3 Geometria
własność | Specyfikacja | Metoda kontroli |
Geometria | Pełny kwadrat | |
Długość boku wafla | 158,75±0,25mm | system kontroli opłatków, |
Średnica wafla | φ223±0,25 mm | system kontroli opłatków, |
Kąt między sąsiednimi bokami | 90° ± 0.2° | system kontroli opłatków, |
Grubość | 180 ﹢ 20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | system kontroli opłatków, |
TTV (całkowita zmiana grubości) | ≤ 27 µm | system kontroli opłatków, |
4 Właściwości powierzchni
własność | Specyfikacja | Metoda kontroli |
Metoda cięcia | DW | -- |
Jakość powierzchni | po cięciu i oczyszczeniu, bez widocznych zanieczyszczeń, (olej lub tłuszcz, odciski palców, plamy z mydła, plamy z gnojowicy, plamy z żywic epoksydowych/klejów są niedozwolone) | system kontroli opłatków, |
Ślady piły / kroki | ≤ 15µm | system kontroli opłatków, |
Kokarda | ≤ 40 µm | system kontroli opłatków, |
Osnowa | ≤ 40 µm | system kontroli opłatków, |
Żeton | głębokość ≤ 0,3 mm i długość ≤ 0,5 mm Max 2/szt; bez V-chipów | System kontroli gołym okiem lub opłatkiem |
Mikropęknięcia/dziury | Nie dozwolony | system kontroli opłatków, |
Popularne Tagi: n typ 158,75 mm monokrystaliczny wafel słoneczny, Chiny, dostawcy, producenci, fabryka, wyprodukowany w Chinach
