Czarna krzemowa powierzchnia typu P Polikrystaliczny wafel słoneczny, w tym 166 mm * 166 mm

Blak Silicon Surface P Type Polycrystalline Solar Wafer Including 166mm*166mm

Black Silicon Surface P Type Polycrystalline Solar Wafer Including 166mm*166mm

Black Silicon Surface P Type Polycrystalline Solar Wafer Including 166mm166mm 01

Black Silicon Surface P Type Polycrystalline Solar Wafer Including 166mm*166mm

Czarna krzemowa powierzchnia typu P Polikrystaliczny wafel słoneczny, w tym 166 mm * 166 mm

Wprowadzenie produktów:

Wytrawianie chemiczne wspomagane metalem (MACE) to niedawno opracowana metoda anizotropowego wytrawiania na mokro, która umożliwia wytwarzanie nanostruktur półprzewodnikowych o wysokim współczynniku kształtu z wzorzystej folii metalowej.

Wyślij zapytanie

Czatuj teraz

Opis

Parametry techniczne

P type black silicon wafer 7

P type black silicon wafer in cascade 3

W dobrze przyjętym modelu opisującym proces MACE,utleniaczpreferuje się redukować na powierzchnikatalizator metalowy, a dziury (h+) są wstrzykiwane z katalizatora metalicznego do Si lub elektrony (e-) są przenoszone z Si do katalizatora metalicznego. Si pod metalowym katalizatorem ma maksimumkoncentracja dziur, Dlatego teżutlenianiea rozpuszczanie Si następuje preferencyjnie pod katalizatorem metalicznym.

Stwierdzono, że sprawność konwersji energii słonecznej wzrasta, gdy SiNW zwysoki współczynnik kształtusą stosowane w powierzchni napromieniowania światłem slar.

1 Stan powierzchni

Parametr	Proces	Odbicie
Przód
Stan powierzchni	Metal Wspomagane trawienie chemiczne	Niska
Tył
Stan powierzchni	Polerowane lub teksturowane	Wysoko czy nisko

2 Właściwości materiału

własność	Specyfikacja	Metoda kontroli
Metoda wzrostu	kierunkowe krzepnięcie	XRD
Krystaliczność	polikrystaliczny	Preferencyjne techniki wytrawiania（ASTM F47-88）
Typ przewodności	Typ P	Napson EC-80TPN P/N
Domieszka	Bor	-
Stężenie tlenu [Oi]	≦1E (17 at/cm)³	FTIR (ASTM F121-83)
Stężenie węgla [Cs]	≦1E (18 at/cm)³	FTIR (ASTM F123-91)

3 Właściwości elektryczne

własność	Specyfikacja	Metoda kontroli
Oporność	0,5-2 Ωcm (po wygrzaniu)	System kontroli wafli
MCLT (czas życia przewoźnika mniejszościowego)	≧2 μs	Sinton QSSPC

4 Geometria

własność	Specyfikacja	Metoda kontroli
Geometria	Kwadrat lub prostokąt	System kontroli wafli
Kształt krawędzi skośnej	Linia	System kontroli wafli
Rozmiar wafla (Długość boku*długość boku)	156mm * 156mm 157mm * 186mm 166mm * 166mm	System kontroli wafli
Kąt między sąsiednimi bokami	90±3°	System kontroli wafli

Popularne Tagi: czarny krzemowy polikrystaliczny wafel słoneczny typu p, w tym 166 mm * 166 mm, Chiny, dostawcy, producenci, fabryka, wyprodukowany w Chinach