M6 typu M6 monokrystaliczna specyfikacja wafla krzemowego

M6 typu M6 monokrystaliczna specyfikacja wafla krzemowego

Zoptymalizowany pod kątem wysokowydajnych zastosowań słonecznych, monokrystaliczny płyt krzemowy typu N typu N ma pseudo-kwadrat 166 × 166 mm z doskonałymi właściwościami materiału. Wyprodukowane metodą CZ z dopingu fosforu, zapewnia doskonałą jakość kryształów z<100>orientacja i gęstość niskiej defektu (mniejsza lub równa 500 cm⁻²). Wafel oferuje przewodność typu N z rezystywnością 1,0-7,0 Ω · cm i większą lub równą 1000 µs żywotność nośnika, co czyni go idealnym dla technologii komórek Topcon i HeterOjction. Jego precyzyjna geometria (φ223 mm, mniejsza lub równa 27 µM TTV) i ścisłe standardy jakości powierzchni zapewniają optymalną wydajność modułów fotowoltaicznych. Rozmiar M6 zapewnia doskonałą równowagę między wydajnością komórek a wydajnością produkcyjną nowoczesnych linii produkcyjnych słonecznych.
Share to
Wyślij zapytanie
Czatuj teraz
Opis
Parametry techniczne

CZ silicon crystal growth

 

p-type-182mm-monocrystalline-solar-wafer12427330843

 

Zoptymalizowany pod kątem wysokowydajnych zastosowań słonecznych, monokrystaliczny płyt krzemowy typu N typu N ma pseudo-kwadrat 166 × 166 mm z doskonałymi właściwościami materiału. Wyprodukowane metodą CZ z dopingu fosforu, zapewnia doskonałą jakość kryształów z<100>orientacja i gęstość niskiej defektu (mniejsza lub równa 500 cm⁻²). Wafel oferuje przewodność typu N z rezystywnością 1,0-7,0 Ω · cm i większą lub równą 1000 µs żywotność nośnika, co czyni go idealnym dla technologii komórek Topcon i HeterOjction. Jego precyzyjna geometria (φ223 mm, mniejsza lub równa 27 µM TTV) i ścisłe standardy jakości powierzchni zapewniają optymalną wydajność modułów fotowoltaicznych. Rozmiar M6 zapewnia doskonałą równowagę między wydajnością komórek a wydajnością produkcyjną nowoczesnych linii produkcyjnych słonecznych.

 

 

1. Właściwości materiałowe

 

Nieruchomość

Specyfikacja

Metoda kontroli

Metoda wzrostu

CZ

 

Krystaliczność

Monokrystaliczne

Preferencyjne techniki wytrawienia(ASTM F47-88)

Typ przewodności

Typ n

Napson EC-80TPN

Dopant

Fosfor

-

Stężenie tlenu [OI]

Mniej niż lub równy8e +17 at/cm3

FTIR (ASTM F121-83)

Stężenie węgla [CS]

Mniej niż lub równy5e +16 at/cm3

FTIR (ASTM F123-91)

Gęstość dotknięcia (gęstość zwichnięcia)

Mniej niż lub równy500 cm-2

Preferencyjne techniki wytrawienia(ASTM F47-88)

Orientacja powierzchniowa

<100>± 3 stopnie

Metoda dyfrakcji rentgenowskiej (ASTM F26-1987)

Orientacja pseudo kwadratowych stron

<010>,<001>± 3 stopnie

Metoda dyfrakcji rentgenowskiej (ASTM F26-1987)

 

2. właściwości elektryczne

 

Nieruchomość

Specyfikacja

Metoda kontroli

Oporność

1,0-7,0 Ω.CM

System inspekcji opłat

MCLT (Liftime Nośnik mniejszości)

Większe lub równe 1000 µs
Sinton BCT-400
Przejściowy
(Z poziomem wtrysku: 5e14 cm-3)

 

3. Geometria

 

Nieruchomość

Specyfikacja

Metoda kontroli

Geometria

Pseudo Square

 
Kształt krawędzi fazowania
okrągły  

Długość boku opłat

166 ± 0,25 mm

System inspekcji opłat

Średnica opłat

φ223 ± 0,25 mm

System inspekcji opłat

Kąt między sąsiednimi stronami

90 stopni ± 0,2 stopnia

System inspekcji opłat

Grubość

180﹢ 20/﹣10 µm
175﹢ 20/﹣10 µm
170﹢ 20/﹣10 µm
160﹢ 20/﹣10 µm
150﹢ 20/﹣10 µm
System inspekcji opłat

TTV (całkowita zmienność grubości)

Mniej niż lub równy 27 µm

System inspekcji opłat

 

N-Type M6 Monocrystalline Silicon Wafer Specification1

 

4.Właściwości powierzchni

 

Nieruchomość

Specyfikacja

Metoda kontroli

Metoda cięcia

DW

--

Jakość powierzchni

Jak wycięte i oczyszczone, brak widocznego zanieczyszczenia (olej lub tłuszcz, nadruki palców, plamy mydła, plamy zawiesiny, plamy epoksydowe/kleju nie są niedozwolone)

System inspekcji opłat

SAW Znaki / stopnie

Mniej niż 15 µm

System inspekcji opłat

Ukłon

Mniejsze lub równe 40 µm

System inspekcji opłat

Osnowa

Mniejsze lub równe 40 µm

System inspekcji opłat

Żeton

Głębokość mniejsza lub równa 0,3 mm i długości mniejsza lub równa 0,5 mm max 2/PCS; Brak V-Chip

Nagie oczy lub system inspekcji opłatek

Mikro pęknięcia / dziury

Niedozwolony

System inspekcji opłat

 

 

 

 

Popularne Tagi: M6 M6 M6 Monokrystalline Wafel, Chiny, dostawcy, producenci, fabryka, wyprodukowana w Chinach

Wyślij zapytanie
Wyślij zapytanie